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      鍍層測試儀

      更新時間：2023-10-09

      熒光X線膜厚計采用中文視窗操作測量係統解析度0.001µm小測量麵積0.1mmφ可測量合金層之厚度和組成比例

      鍍層測試儀特點：

      中文視窗操作測量係統
      解析度0．001um， 小測量麵積0．1mmΦ
      可測量合金層之厚度和組成比例
      可測量兩層以上鍍層之個別厚度
      藉由光譜分析可判定被測物之元素
      適用對象：1C導線架，封裝業、PCB業、精密零
      件業、電鍍業、電子業。

       

      		 

       

       

       

       

       

       

       

       

       

       
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